Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)
Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)
Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) utilizan un haz de electrones que son proyectados sobre la muestra para crear una imagen de alta resolución de la superficie. La interacción de los electrones con la muestra produce varias señales que dan información sobre la topografía y la composición de la superficie.
Entre las principales aplicaciones de estos microscopios, están:
- Análisis de composición de materiales (91 h014225/elementos) mediante Energía Dispersiva de Rayox X (EDS)
- Estudio morfológico y estructural de las muestras inorgánicas o biológicas
- Control de calidad de materiales en la industria. Ej. Electrónica y Manufactura
- Análisis de porosidad, rugosidady fibras
- Clasificación de microorganismos
- Análisis de muestras biomédicas, biológicas, de alimentos y farmacéuticas
- Análisis de muestras minerales, medioambientales y de restos arqueológicos
- Estudios forenses
- Educación
- Nanotecnología
Además, para realizar los diversos análisis es necesario utilizar diversos portamuestras y otros accesorios.
