Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) utilizan un haz de electrones que son proyectados sobre la muestra para crear una imagen de alta resolución de la superficie. La interacción de los electrones con la muestra produce varias señales que dan información sobre la topografía y la composición de la superficie.
Entre las principales aplicaciones de estos microscopios, están:
- Análisis de composición de materiales (91 elementos) mediante Energía Dispersiva de Rayox X (EDS)
- Estudio morfológico y estructural de las muestras inorgánicas o biológicas
- Control de calidad de materiales en la industria. Ej. Electrónica y Manufactura
- Análisis de porosidad, rugosidady fibras
- Clasificación de microorganismos
- Análisis de muestras biomédicas, biológicas, de alimentos y farmacéuticas
- Análisis de muestras minerales, medioambientales y de restos arqueológicos
- Estudios forenses
- Educación
- Nanotecnología
Además, para realizar los diversos análisis es necesario utilizar diversos portamuestras y otros accesorios.
Modelos
Phenom Pharos
- El SEM de escritorio más rápido y de alta resolución
- Fuente FEG para imágenes nítidas y de alta resolución
- Aumento hasta 1’000.000x
Phenom XL
- El SEM para muestras grandes
- Escaneo motorizado de muestras de hasta 100 x 100mm
- El ciclo de carga y descarga más rápido en el mundo
Phenom GSR
- Solución dedicada para residuos de pólvora
- Operación estable y disponible 24/7
- Fuente CeB de larga duración
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